Hallo Miteinander,
kann hier wer darüber Auskunft geben ob bei der Fertigung von Spitzenoptiken
neben einer topografischen Darstellung der Wellenfrontanalyse, Abweichungen vonder
Sollwellenfront etc.
auch ein Weißlichtinterferometer zu Messung der Rauhigkeit von optischen Flächen zum Einsatz kommt. Meines Wissens bringt es Zeiss bei einem Röntgenteleskop auf
ca. o,25 Nanometer.
Besten Dank für Hinweise.
uh
